二级导航
产品中心
半导体封测设备
COS综合性能测试设备 激光器芯片检测设备 BAR条综合测试设备 激光器芯片扩膜摘料设备
芯片封装设备
共晶贴片设备
晶圆打标设备
激光芯片清洗设备
AGV解决方案
 >  产品中心  >  半导体封测设备

搜索 :

0.0
半导体激光器全自动COS综合性能测试设备
半导体激光器全自动COS综合性能测试设备
LD-COS检测设备：用于激光芯片贴片后，光性能的检测设备。传统检测方式为人工上下料，仪器检测数据，人工筛选和记录。本设备将全面实现自动化，大大提高芯片检出效率，减少人为操作带来的误判或芯片损伤，更省人省时。
¥0.00
¥0.00
立即购买
购物车
0.0
激光器芯片检测设备
激光器芯片检测设备
激光器半导体芯片检测设备 应用领域：芯片摘取、芯片识别、分拣、高精度缺陷检测；
¥0.00
¥0.00
立即购买
购物车
0.0
激光器芯片扩膜摘料设备
激光器芯片扩膜摘料设备
激光器芯片扩膜摘料设备：激光器芯片经过划片、裂片后，进行蓝膜扩膜分隔产品间距，通过OCR字符识别与Map表格对应，实现力控吸取物料Wafer To Tray,并且检测N面，P面，共晶面，Wire Boned面缺陷，良率达到99.95%以上。节省人力6人，经济效益50W/年、
¥0.00
¥0.00
立即购买
购物车
0.0
Bar条综合测试设备
Bar条综合测试设备
BAR条综合测试设备是主要针对已贴片的BOS器件，在可控温度工作台上自动 测定其光功率、电压、电流、波长、远场发散角等特性。
¥0.00
¥0.00
立即购买
购物车
< 1 >
留言
TOP